摘要  简要介绍半导体器件的单粒子效应及其机理，重点分析当前国外主要的单粒子效应试验方法标准，针对标准中辐照源及重离子射程的关键问题进行研究，并对如何制定我国的单粒子试验方法标准提出了建议。
关键词  半导体器件  效应  单粒子  标准
Abstract: This paper briefly introduces single event effect (SEE) in semiconductor and its
mechanism,especially analyzes the main SEE test method standards of the world.Several
critical problems in these standards are studied and the suggestion of developing SEE
test method standards of our country is put forward.
Keywords:semiconductor device; effect; single event; standard

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