摘要  回顾了原子荧光的发展，并综述了原子荧光在中国电子电气产品中重金属元素检测领域的进展：主要是开发了原子荧光测Cr(VI)的方法和仪器，及对现有测Pb、Cd的方法进行改进，以解决电子电气产品中高金属基体对测量的干扰。最后，展望了原子荧光在中国电子电气检测领域中的应用前景。
关键词  原子荧光  RoHS  Cr(VI)  电子电气产品 重金属检测
Abstract: The advance of atomic fluorescence spectrometry (AFS) and the application of 
AFS for determination of heavy metals in China RoHS were reviewed. Two problems in 
this application were overcome: one was the development of analysis method and AFS 
instrument for Cr(VI); the other was the improvement of analysis method for Pb and Cd 
by AFS to eliminate the matrix interference caused by high concentration metal elements
Moreover, the prospects for application of AFS in China RoHS were described.
Keywords: Atomic Fluorescence Spectrometry; Restric of Harzardous Substance; Cr(VI);
electrical and electronic products; determination of heavy metals.

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