摘 要 介绍了存储器分类，论述非易失性存储器编程机理以及编程/ 擦除耐久和数据保持试验方法，分析了MIL-STD-883B 中的《耐久寿命试验》和JESD22-A117《电可擦除可编程只读存储器（EEPROM）编程/ 擦除耐久和数据保持应力试验》等试验方法标准。
关键词 EEPROM 非易失性存储器 耐久 保持 标准
Abstract:This paper introduces memory classify,discuss non-volatile memory programming
mechanism and program/erase endurance and data retention test methods, and 
“endurance life” of MIL-STD-883 “test method standard microcircuits” and JESD22-
A117 “electrically erasable programmable ROM (EEPROM) program/Erase endurance and
data retention stress test”are described.
Keywords: EEPROM; non-volatile memory; endurance; retention; standard

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