摘要  本方法应用原子荧光光谱法测定电子电气产品中铬（Ⅵ）的含量，为了适应RoHS中各种复杂样品的检测以及改善样品消解等诸多实际问题，本文进行了研究。其相对标准偏差（RSD）：2.03%；检出限：0.0646mg/L；线性范围宽, 校准曲线的线性相关系数应大于0.999等。有效的将铬（Ⅵ）铬（III）分离，并有效的消除基体干扰等，完全能够适应电子电气产品中铬（Ⅵ）的测定。
关键词  原子荧光光谱法  电子电气产品  铬（Ⅵ）  方法研究
Abstract: The atom fluorescence spectrum method is applied follows the contents
determining the electron electricity product hexavalent chromium(VI),dispels for adapting
to various complicated RoHS sample detecting and improving a sample waiting for a lot
of actual problem , the main body of a book to have been in progress studying. Whose
relative standard deviation (RSD): 2.03%; Inspect up out a limit: 0.0646 mg/L; Linearity 
range width,the linearity relevance modulus adjusting a curve's respond to 0.999 grade
greater than. The chromium (VI) and chromium (III) can be separated ,The method can
eliminating base the body disturbance waits, It  can be able to adapt to the electron
electricity product middle chromium (VI) completely. 
Keywords: the atom fluorescence spectrum method；the electron electricity product；
hexavalent chromium (VI)；investigation

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