来源:
《信息技术与标准化》2021年第11期
作者:南江 孔宪伟 胡海涛 李进
同步动态随机存储器时序参数容限 测试方法研究
对同步动态随机存储器 (SDRAM) 的时序参数进行了分析,并采用 Shmoo 测试方法,对某国产 DDR2SDRAM 的 tRCD、tRAS、tRP、tRC、tCK 等时序参数的容限进行了测试。通过与 JEDEC 标准的对比验证,证明该产品的时序参数满足 JEDEC 标准的要求,并得到了相关参数的容限,为该类产品的质量评估和可靠应用提供了参考。