针对半导体芯片电容器无适用总规范的问题，通过对其结构、工艺和性能特性进行分析研究，提出适用于半导体芯片电容器的技术参数以及满足筛选、鉴定和质量一致性检验要求的试验项目，同时对其结构相似性进行初步研究，为该类产品详细规范的制定提供有效指导。

网站会员需要登录才能在线预览，点我登录。

如何成为网站会员>>